UTE C86-614/A5
| Fecha edición: |
1979-08-27
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | BIPOLAR TRANSISTORS|TESTING CONDITIONS|QUALITY CONTROL|SPECIFICATIONS|TESTS|VIBRATION TESTS|THERMAL SHOCK TESTS|ELECTRICAL TESTS|SEMICONDUCTOR DEVICES|TECHNICAL DATA SHEETS|ELECTRONIC COMPONENTS|WELDABILITY TESTS|MECHANICAL TESTS|TENSION TESTS|IMPACT TESTS|THERMAL TESTS|DAMP HEAT TESTS|ELECTRIC ENDURANCE TESTS|HIGH TEMPERATURE TESTS |
| ICS: | 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31.080.30 - Transistores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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