UTE C86-614/A7
¿Abrumado/a por la IA?
Pasa de la teoría a la práctica con el Taller de IA: Fundamentos Prácticos y Maestría. Próximo 4 de Junio
¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
1981-01-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | QUALITY CONTROL|TENSION TESTS|ELECTRONIC COMPONENTS|TESTS|MECHANICAL TESTS|SPECIFICATIONS|IMPACT TESTS|SEMICONDUCTOR DEVICES|TESTING CONDITIONS|HIGH TEMPERATURE TESTS|ELECTRICAL TESTS|TECHNICAL DATA SHEETS|THERMAL TESTS|DAMP HEAT TESTS|THERMAL SHOCK TESTS|ELECTRIC ENDURANCE TESTS|WELDABILITY TESTS|VIBRATION TESTS|BIPOLAR TRANSISTORS |
| ICS: | 31.080.30 - Transistores |
| CTN: | |
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Modificaciones Normas |
Modifica a UTE C86-614:197702 (C86-614U) |
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