UTE C96-315/A2
| Fecha edición: |
1990-11-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés |
| Keywords: | DETAIL SPECIFICATIONS|ATTENUATORS|MEASUREMENT|MICROWAVE MICROELECTRONICS|TESTING CONDITIONS|ELECTRIC CHARGE|ELECTRONIC COMPONENTS |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.080 - Dispositivos semiconductores, 31 - ELECTRONICA |
| CTN: |
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