25/30511533 DC
Draft BS EN 63378-6-1 Thermal standardization on semiconductor packages. Part 6-1. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points. Model creation method using a datasheet of semiconductor device
| Fecha edición: |
2025-04-09
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | |
| CTN: |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
