DIN EN 60444-8:2017-11
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2016); German version EN 60444-8:2017 / Note: DIN EN 60444-8 (2004-03) remains valid alongside this standard until 2020-01-19.
| Fecha edición: |
2017-11-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of IEC 60444 describes test fixtures suitable for leadless surface mounted quartz crystal units in enclosures as defined in IEC 61837 (all parts). Dieser Teil von IEC 60444 beschreibt geeignete Prüfaufbauten für oberflächenmontierbare Schwingquarze in Gehäusen nach IEC 61837 (alle Teile). |
| Keywords: | Crystal resonators|Crystals (electronic)|Electrical engineering|Electronic equipment and components|Equivalent circuits|Frequency measurement|Frequency ranges|Measurement|Measuring accuracy|Measuring ranges|Measuring techniques|Piezoelectric devices|Quartz crystals|Resonance|Resonance resistance|Resonant frequency|SMD|Surface mounting|Test set-ups|Testing|Zero phase |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60444-8:2017 Idéntica IEC 60444-8:2016 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 60444-8:2004-03 Reemplaza a DIN EN 60444-8:2014-08 |
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