DIN EN 60747-15:2012-08
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010); German version EN 60747-15:2012 / Note: DIN EN 60747-15 (2004-08) remains valid alongside this standard until 2014-01-20.*A transition period, as set out in DIN EN IEC 60747-15 (2025-08), exists until 2027-11-30.
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2025-08-01
Anulada
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|---|---|
| Fecha cancelación: | 2025-08-01 |
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Keywords: | Acceptance inspection|Components|Definitions|Discrete devices|Electrical engineering|Electrical insulating materials|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Endurance testing|Inspection|Integrated circuits|Measurement|Measuring techniques|Reliability|Semiconductor devices|Symbols|Testing |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60747-15:2012 Idéntica IEC 60747-15:2010 |
|
Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 60747-15:2004-08 Reemplaza a DIN IEC 60747-15:2007-06 Es reemplazada por DIN EN IEC 60747-15:2025-08 |
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