DIN EN 60749-11:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002 / Note: Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2005-07-01.
| Fecha edición: |
2003-04-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | The document defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. This test is applicable to all semiconductor devices. It is conducted to determine the resistance of a device to sudden exposure to extreme or rapid changes in the temperature and to the effect of alternate exposure to these extremes Das Dokument legt das Prüfverfahren mit raschen Temperaturwechseln und das Zweibäderverfahren fest. Diese Prüfung gilt für alle Halbleiterbauelemente. Sie wird durchgeführt, um die Beständigkeit eines Bauelements gegen plötzliches Einwirken von extremen oder raschen Temperaturwechseln und den Effekt von abwechselnden Einwirkungen dieser Extrembedingungen zu bestimmen. |
| Keywords: | Changes of temperature|Climate|Climatic tests|Components|Definitions|Destructive testing|Electrical engineering|Electrical measurement|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Environmental testing|Integrated circuits|Mechanical testing|Semiconductor devices|Semiconductors|Testing |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-11:2002 Idéntica IEC 60749-11:2002/COR2:2003 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 60749:2002-09 |
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