DIN EN 60749-27:2013-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); German version EN 60749-27:2006 + A1:2012 / Note: DIN EN 60749-27 (2007-01) remains valid alongside this standard until 2015-10-30.
| Fecha edición: |
2013-04-01
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of DIN EN 60749 establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, um Halbleiterbauelemente hinsichtlich deren Empfindlichkeit auf Beschädigungen oder Degradationen (Leistungsminderungen) zu prüfen und zu klassifizieren, wenn diese Bauelemente mit einer elektrostatischen Entladung nach dem festgelegten Maschinen-Modell (MM) beansprucht werden. Dieses Verfahren darf alternativ zum ESD-Prüfverfahren nach dem Human-Body-Modell verwendet werden. Ziel ist es, zuverlässige und wiederholbare ESD-Prüfergebnisse für eine korrekte Klassifizierung zu erhalten. |
| Keywords: | Atmospheric pressure|Changes of temperature|Classification|Classification systems|Climate|Climatic tests|Components|Definitions|Dimensions|Discharge|Electrical components|Electrical engineering|Electrical measurement|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Electrostatic|Electrostatic discharges|Electrostatics|Environment|Environmental testing|Environmental tests|Flammability|Heat|Impulse loadability|Integrated circuits|Machines|Measuring equipment|Mechanical testing|Models|Moisture|Resistance|Semiconductor devices|Semiconductors|Sensitivity|Simulation|Temperature|Testing|Testing devices|Visual inspection (testing) |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
|
Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-27:2006/A1:2012 Idéntica IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV |
|
Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 60749-27:2007-01 Reemplaza a DIN EN 60749-27/A1:2011-10 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
