DIN EN 60749-38:2008-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
| Fecha edición: |
2008-10-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of DIN EN 60749 establishes a procedure for measuring the soft error susceptibility of semiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpha radiation. Two tests are described; an accelerated test using an alpha radiation source and an (unaccelerated) real-time system test where any errors are generated under conditions of naturally occuring radiation which can be alpha or other radiation such as neutron. In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Verfahren zur Messung der Fähigkeit des Datenerhalts von Halbleiterbauelementen mit Speichern festgelegt, wenn diese Bauelemente einer Beanspruchung mit hochenergetischen Teilchen wie der Alpha-Strahlung ausgesetzt sind. Zwei Prüfarten sind beschrieben: die eine mit einer beschleunigenden Prüfbeanspruchung unter Verwendung einer Alpha-Strahlenquelle und die andere als eine (nicht beschleunigende) Beanspruchung unter Realzeit-Systembedingungen, bei welcher beliebige Fehler unter den Bedingungen der natürlich auftretenden Strahlung erzeugt werden, wobei diese Strahlung sowohl Alpha-Strahlung als auch andere Strahlungen wie beispielsweise Neutronenstrahlung enthalten kann. |
| Keywords: | Accelerated|Alpha radiation|Climatic tests|Components|Damage|Defects|Definitions|Electrical engineering|Electrical measurement|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Integrated circuits|Interferences|Measurement|Mechanical testing|Power electronics|Semiconductor devices|Semiconductors|Testing|Testing conditions |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-38:2008 Idéntica IEC 60749-38:2008 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN IEC 60749-38:2005-04 |
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