DIN EN 60749-42:2015-05
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014); German version EN 60749-42:2014
| Fecha edición: |
2015-05-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of DIN EN 60749 provides a test method to evaluate the endurance of semiconductor devices used in high temperature and high humidity environments. In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Prüfverfahren zur Schätzung der Lebensdauer von Halbleiterbauelementen, die bei Umgebungsbedingungen mit hohen Temperaturen und hohen relativen Luftfeuchten eingesetzt werden, festgelegt. |
| Keywords: | Changes of temperature|Chips|Climate|Climatic tests|Components|Corrosion|Dimensions|Electrical engineering|Electrical measurement|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Endurance testing|Environment|Environmental condition|Environmental testing|Environmental tests|Humidity|Integrated circuits|Mechanical testing|Moisture|Properties|Resistance|Semiconductor devices|Semiconductors|SMD|Storage|Surface mounting devices|Temperature|Testing |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-42:2014 Idéntica IEC 60749-42:2014 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 60749-42:2012-07 |
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