DIN EN 61164:2004-11
Reliability growth - Statistical test and estimation methods (IEC 61164:2004); German version EN 61164:2004
| Fecha edición: |
2004-11-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This International Standard gives models and numerical methods for reliability growth assessments based on failure data, which were generated in a reliability improvement programme. These procedures deal with growth, estimation, confidence intervals for product reliability and goodness-of-fit tests. Diese Internationale Norm enthält Modelle und numerische Verfahren zur Vewertung des Zuverlässigkeitswachstums auf Grundlage der Ausfalldaten, die in einem Programm für das Zuverlässigkeitswachstum erhalten wurden. Diese Verfahren behandeln Wachstum, Schätzung und Vertrauensbereiche für die Produktzuverlässigkeit und Anpassungsprüfung. |
| Keywords: | Defects|Definitions|Electrical engineering|Electrical equipment|Estimation|Evaluations|Failure|Mathematical calculations|Planning|Product development|Quality|Reliability|Reliability testing|Statistics|Testing |
| ICS: | 29.020 - Electrotecnia en general, 03.120.01 - Calidad en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 61164:2004 Idéntica IEC 61164:2004 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN IEC 61164:2002-02 |










