DIN EN 61967-6:2008-10
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (IEC 61967-6:2002 + A1:2008); German version EN 61967-6:2002 + A1:2008 / Note: DIN EN 61967-6 (2003-05) remains valid alongside this standard until 2011-04-01.
| Fecha edición: |
2008-10-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of IEC 61967 specifies a method for evaluating RF currents on the pins of an integrated circuit (IC) by means of non-contact current measurement using a miniature magnetic probe. This method is capable of measuring the RF currents generated by the IC over the frequency range of 0,15 MHz to 1000 MHz. Dieser Teil von IEC 61967 legt ein Verfahren zur Bestimmung von Hochfrequenz-Strömen an den Anschlusspins einer integrierten Schaltung (IC) durch berührungslose Strommessung mit einer Miniaturmagnetsonde fest. Mit diesem Verfahren können von einem IC erzeugte HF-Ströme in einem Frequenzbereich von 0,15 MHz bis 1000 MHz gemessen werden. |
| Keywords: | Calibration|Electrical engineering|Electromagnetic radiation|Electronic equipment and components|Frequency ranges|High frequencies|Integrated circuits|Magnetic|Measurement|Measuring techniques|Printed-circuit boards|Probe methods|Test set-ups|Testing|Testing conditions|Testing devices |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 61967-6:2002/A1:2008 Idéntica IEC 61967-6:2002/COR1:2010 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por DIN EN 61967-6 Berichtigung 1:2011-02 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 61967-6:2003-05 Reemplaza a DIN IEC 61967-6/A1:2005-06 |
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