DIN EN 61967-6 Berichtigung 1:2011-02
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method (IEC 61967-6:2002 + A1:2008); German version EN 61967-6:2002 + A1:2008, Corrigendum to DIN EN 61967-6:2008-10; (IEC-Cor. :2010 to IEC 61967-6:2002)
| Fecha edición: |
2011-02-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of IEC 61967 specifies a method for evaluating RF currents on the pins of an integrated circuit (IC) by means of non-contact current measurement using a miniature magnetic probe. This method is capable of measuring the RF currents generated by the IC over the frequency range of 0,15 MHz to 1000 MHz. The Corrigendum corrects values in figure 3 and Equation A.1 Dieser Teil von DIN EN 61967 legt ein Verfahren zur Bestimmung von HF-Strömen an den Anschlusspins einer integrierten Schaltung (IC) durch berührungslose Strommessung mit einer Miniaturmagnetsonde fest. Mit diesem Verfahren können von einem IC erzeugte HF-Ströme in einem Frequenzbereich von 0,15 MHz bis 1000 MHz gemessen werden. Mit der Berichtigung werden Werte in Bild 3 und Gleichung A.1 richtig gestellt. |
| Keywords: | Calibration|Electrical engineering|Electromagnetic radiation|Electronic equipment and components|Frequency ranges|High frequencies|Integrated circuits|Magnetic|Measurement|Measuring techniques|Printed-circuit boards|Probe methods|Test set-ups|Testing|Testing conditions|Testing devices |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | |
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Modificaciones Normas |
Modifica a DIN EN 61967-6:2008-10 |
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