DIN EN 62047-20:2015-04
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 20: Gyroscopes (IEC 62047-20:2014); German version EN 62047-20:2014
| Fecha edición: |
2015-04-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This document specifies terms and definitions, ratings and characteristics, and measuring methods of gyroscopes, based on MEMS-fabrication technologies. In diesem Dokument sind Begriffe, Bemessungen und Kenngrößen sowie Messverfahren für Gyroskope (Drehratensensoren) festgelegt, welche im Wesentlichen in der MEMS-Technologie gefertigt werden. |
| Keywords: | Definitions|Electrical engineering|Gyroscopes|Measurement|Measuring techniques|Microelectronics|Microsystem techniques|Ratings|Reliability|Semiconductor devices |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62047-20:2014 Idéntica IEC 62047-20:2014 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 62047-20:2012-07 |
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