DIN EN 62047-7:2012-02
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011); German version EN 62047-7:2011
| Fecha edición: |
2012-02-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This standard describes terms, definition, symbols, configurations, and test methods that can be used to evaluate and determine the performance characteristics of BAW resonator, filter, and duplexer devices as radio frequency control and selection devices. In diesem Dokument sind Begriffe, Definitionen, Symbole, Konfigurationen sowie Prüf- und Messverfahren festgelegt, die für Bewertungen und Ermittlungen der Leistungs- und Funktionskenngrößen von Resonatoren, Filtern und Duplexern auf Basis akustischer Volumenwellen (BAW, en: bulk acoustic waves) als Bauelemente zur Regelung und Trennung von Hochfrequenzbauelementen verwendet werden können. |
| Keywords: | Characteristics|Components|Definitions|Duplex|Electrical engineering|Filters|High frequencies|Layers|Materials|Measurement|Measuring techniques|Microelectronics|Microsystem techniques|Properties|Samples|Semiconductor devices|System engineering|Testing|Testing conditions |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general, 31.220.01 - Componentes electromecánicos en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62047-7:2011 Idéntica IEC 62047-7:2011 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN IEC 62047-7:2008-09 |
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