DIN EN IEC 60747-15:2024-06
Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices (IEC 47E/812/CDV:2023); German and English version prEN IEC 60747-15:2023 / Note: Date of issue 2024-05-03
| Fecha edición: |
2025-08-01
Anulada
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|---|---|
| Fecha cancelación: | 2025-08-01 |
| Idiomas disponibles: | Alemán, Inglés |
| Keywords: | Acceptance inspection|Components|Definitions|Discrete devices|Electrical engineering|Electrical insulating materials|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Endurance testing|Inspection|Integrated circuits|Measurement|Measuring techniques|Reliability|Semiconductor devices|Symbols|Testing |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica prEN IEC 60747-15 (2023-08) Idéntica IEC 47E/812/CDV (2023-08) |
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Reemplazo Normas |
Es reemplazada por DIN EN IEC 60747-15:2025-08 |
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