DIN EN IEC 62276:2023-05
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 49/1401/CD:2022); Text in German and English / Note: Date of issue 2023-04-28
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2026-03-01
Anulada
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|---|---|
| Fecha cancelación: | 2026-03-01 |
| Idiomas disponibles: | Alemán, Inglés |
| Resumen: | This document applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. Dieses Dokument gilt für die Herstellung von synthetischen Quarz-, Lithiumniobat- (LN), Lithiumtantalat- (LT), Lithiumtetraborat- (LBO) und Lanthangalliumsilikat- (LGS) Einkristallscheiben, die zur Verwendung als Substrate bei der Herstellung von akustischen Oberflächenwellenfiltern und -resonatoren (SAW) bestimmt sind. |
| Keywords: | Acoustic waves|Components|Crystal lattices|Crystals (electronic)|Definitions|Electrical engineering|Electrical properties|Electrical properties and phenomena|Electronic equipment and components|Frequency stabilization|Lithium|Measurement|Measuring techniques|Methods for measuring|Piezoelectric devices|Piezoelectricity|Quartz crystals|Ratings|Single crystal|Specifications|Surface acoustic wave devices|Surface acoustic waves|Testing|Wafers |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 49/1401/CD (2022-07) |
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Reemplazo Normas |
Es reemplazada por DIN EN IEC 62276:2026-03 |
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