DIN EN IEC 62884-4:2020-02
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4: Short-term frequency stability test methods (IEC 62884-4:2019); German version EN IEC 62884-4:2019
| Fecha edición: |
2020-02-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of IEC 62884 describes the methods for the measurement and evaluation of the short-term frequency stability tests of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators. Its purpose is to unify the test and evaluation methods for short-term frequency stability. Dieser Teil von IEC 62884 beschreibt die Prüfverfahren zur Messung und Bewertung der Kurzzeit-Frequenzstabilität piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Oszillatoren. Es ist dazu gedacht, die Prüf- und Bewertungsverfahren für die Kurzzeit-Frequenzstabilität zu vereinheitlichen. |
| Keywords: | Ageing (materials)|Crystals (electronic)|Dielectric|Dielectric devices|Electrical engineering|Electronic equipment and components|Electrostatic|Electrostatic devices|Frequencies|Frequency stability|Frequency stabilization|Measurement|Measurement conditions|Measuring techniques|Oscillators|Piezoelectric|Piezoelectric devices|Quality|Quartz crystal controlled oscillators|Quartz crystals|Short-time|Specification (approval)|Testing|Types |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 62884-4:2019 Idéntica IEC 62884-4:2019 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN 62884-4:2016-08 |
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