DIN EN IEC 63364-1:2025-01
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection (IEC 63364-1:2022); German version EN IEC 63364-1:2023
| Fecha edición: |
2025-01-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | This part of IEC 63364-1 provides terms, test method, and report of sound variation detection system based on IoT. It provides the evaluation method for each part of the sound variation detection system based on IoT in the block diagram, the characterization parameters, symbols, test setups and the conditions. In addition, this document defines the configuration items and criteria of standard space and firing situation for the quality evaluation measurement of sound field variation detection system with IoT. Dieser Teil der IEC 63364-1 enthält Begriffe, Prüfverfahren und Berichte für ein System zur Erkennung von Schallabweichungen auf der Grundlage des IoT. Er bietet die Bewertungsmethode für jedes Teil des auf dem IoT basierenden Systems zur Erkennung von Schallabweichungen im Blockdiagramm, die Charakterisierungsparameter, Symbole, Testaufbauten und die Bedingungen. Darüber hinaus definiert dieses Dokument die Konfigurationselemente und Kriterien des Standardraums und der Feuersituation für die Qualitätsbewertungsmessung des Schallfeld-Variationserkennungssystems mit IoT. |
| Keywords: | Components|Definitions|Detection|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Internet of things|IoT|Microelectronics|Noise|Semiconductor devices|Semiconductors|Sinusoidal sound|Sound|Sound fields|Testing|Variations |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 63364-1:2023 Idéntica IEC 63364-1:2022 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN IEC 63364-1:2023-10 |
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