DIN IEC 61178-2:1995-02
A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ) - Quartz crystal units - Part 2: Sectional specification, capability approval; identical with IEC 61178-2:1993
| Fecha edición: |
1995-02-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Alemán |
| Resumen: | The document applies to quartz crystal units manufactured as custom-built products or as standard catalogue items and whose quality is assessed on the basis of capability approval. It prescribes the preferred ratings and characteristics, with the appropriate tests and measuring methods contained in DIN IEC 1178-1 and gives general performance requirements to be used in detail specification of quartz cristal units. Das Dokument wird auf Schwingquarze nach Kundenspezifikationen oder Standard-Katalogteile angewendet, deren Güte auf Basis der Befähigungsanerkennung überprüft wird. Es schreibt die bevorzugten Bemessungsdaten und Eigenschaften mit den entsprechenden Prüfungen und Meßverfahren vor, die in DIN IEC 1178-1 aufgeführt sind und nennt allgemeine Anforderungen, die in Bauartspezifikationen für Schwingquarze angewendet werden. |
| Keywords: | Approval|Capability approval|Crystals (electronic)|Dimensioning|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Inspection|Measuring techniques|Piezoelectric devices|Quality|Quality assessment|Quality assessment systems|Quality assurance|Quartz crystals|Sectional specification|Specification|Specification (approval)|Testing |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 61178-2:1993 |
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