IEC 60444-2:1980
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
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1980-01-01
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Ruso, Inglés, Francés |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | 1257 |
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