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IEC 60512-6-2:2002

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump

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Fecha edición: 2002-02-21
En Vigor
Idiomas disponibles: Español, Inglés, Francés
ICS: 31.220.10 - Dispositivos de bases y clavijas. Conectores
CTN: 1373

El libro en palabras del autor

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