IEC 60749-11:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
¿Abrumado/a por la IA?
Pasa de la teoría a la práctica con el Taller de IA: Fundamentos Prácticos y Maestría. Próximo 4 de Junio
¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2002-04-12
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
|
Correcciones Normas |
Es corregida por IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Es corregida por IEC 60749-11:2002/COR2:2003 |
|
Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC PAS 62185:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD1:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD2:2001 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Otras colecciones temáticas
