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IEC 60749-12:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency

Fecha edición: 2017-12-13
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: 1251

Anulaciones Normas

Anula a IEC 60749-12:2002/COR1:2003

Anula a IEC 60749-12:2002

Otras Relaciones

Acuerdo de Frankfurt prEN 60749-12:2017

El libro en palabras del autor

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