IEC 60749-14:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2003-08-07
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC PAS 62184:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD1:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD2:2001 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996 |
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