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IEC 60749-16:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

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Fecha edición:	2003-01-17 En Vigor
Idiomas disponibles:	Español, Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Reemplazo Normas	Reemplaza a IEC PAS 62171:2000

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El libro en palabras del autor

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