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IEC 60749-23:2025 RLV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
| Temáticas: | |
|---|---|
| Fecha edición: |
2025-12-09
En Vigor
|
| Fecha de confirmación: | 0001-01-01 |
| Fecha de corrección: | 0001-01-01 |
| Fecha de ratificación: | 0001-01-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Resumen: | - |
| Keywords: | - |
| Scope: | - |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC 60749-23:2004 Anula a IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 |
|
Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 60749-23:2025 |
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