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IEC 60749-26:2018

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

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Fecha edición:	2018-01-15 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Anulaciones Normas	Anula a IEC 60749-26:2013 Es anulada por
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN 60749-26:2017

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El libro en palabras del autor

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