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IEC 60749-27:2006/AMD1:2012

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

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Fecha edición:	2012-09-25 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Modificaciones Normas	Modifica a IEC 60749-27:2006

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El libro en palabras del autor

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