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IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

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Fecha edición:	2012-09-25 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Anulaciones Normas	Anula a IEC 60749-27:2003
Modificaciones Normas	Es modificada por IEC 60749-27:2006/AMD1:2012

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El libro en palabras del autor

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