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IEC 60749-29:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test

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Fecha edición:	2011-04-07 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Anulaciones Normas	Anula a IEC 60749-29:2003 Es anulada por

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El libro en palabras del autor

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