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IEC 60749-30:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
| Fecha edición: |
2020-08-17
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC 60749-30:2005 Anula a IEC 60749-30:2005/AMD1:2011 |
|
Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 60749-30:2020 |
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