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IEC 60749-30:2020 RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

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Fecha edición:	2020-08-17 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Anulaciones Normas	Anula a IEC 60749-30:2005 Anula a IEC 60749-30:2005/AMD1:2011
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 60749-30:2020

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El libro en palabras del autor

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