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IEC 60749-32:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

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Fecha edición:	2003-08-13 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Correcciones Normas	Modifica/corrige a IEC 60749-32:2002

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El libro en palabras del autor

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