IEC 60749-33:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2004-03-09
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Otras Relaciones |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC PAS 62172:2000 |
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