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IEC 60749-35:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

Fecha edición: 2006-07-18
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: 1251

El libro en palabras del autor

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