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IEC 60749-38:2008

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

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Fecha edición: 2008-02-12
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: 1251

El libro en palabras del autor

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