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IEC 60749-4:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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Fecha edición:	2017-03-03 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Anulaciones Normas	Anula a IEC 60749-4:2002 Anula a IEC 60749-4:2002/COR1:2003
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN 60749-4:2016

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El libro en palabras del autor

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