IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
| Fecha edición: |
2020-07-22
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 60749-41:2020 |
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