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IEC 60749-44:2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

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Fecha edición:	2016-07-21 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN 60749-44:2016

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El libro en palabras del autor

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