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IEC 60749-5:2023

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

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Fecha edición:	2023-12-19 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	1251
Anulaciones Normas	Anula a IEC 60749-5:2017
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 60749-5:2023

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El libro en palabras del autor

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