IEC 60749-8:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
| Fecha edición: |
2002-08-30
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
|
Correcciones Normas |
Es corregida por IEC 60749-8:2002/COR1:2003 Es corregida por IEC 60749-8:2002/COR2:2003 |
|
Reemplazo Normas |
Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD1:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD2:2001 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
