IEC 60749-8:2002/COR2:2003
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2003-08-12
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Correcciones Normas |
Modifica/corrige a IEC 60749-8:2002 |
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