IEC 60749-9:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2017-03-03
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | 1251 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC 60749-9:2002 Anula a IEC 60749-9:2002/COR1:2003 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN 60749-9:2016 |
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