IEC 61164:2004
Reliability growth - Statistical test and estimation methods
| Fecha edición: |
2004-03-24
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| Resumen: | La CEI 61164:2004 fournit des modèles et méthodes numériques permettant d'effectuer des estimations de la croissance de la fiabilité basées sur des données de défaillance élaborées au cours d'un programme d'amélioration de la fiabilité. Ces procédures traitent de la croissance, de l'estimation et des intervalles de confiance pour les essais de fiabilité du produit et d'adéquation. Les principales modifications par rapport à l'édition précédente sont: - ajout de deux modèles statistiques de planification et de suivi de la croissance de la fiabilité en phase de conception du produit; - méthodes statistiques pour le programme relatif à la croissance de la fiabilité en phase de conception de la CEI 61014; - ajout du modèle discret de croissance de la fiabilité pour la phase d'essai; - ajout du nombre fixe de modèles de panne pour la phase d'essai; - clarification des symboles utilisés pour les différents modèles; - ajout d'exemples concrets pour la plupart des modèles statistiques; - correction numérique des tableaux dans l'exemple de test de croissance de la fiabilité. Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 61014:2003. IEC 61164:2004 gives models and numerical methods for reliability growth assessments based on failure data, which were generated in a reliability improvement programme. These procedures deal with growth, estimation, confidence intervals for product reliability and goodness-of-fit tests. The main changes with respect to the previous edition are: - addition of two statistical models for reliability growth planning and tracking in the product design phase; - statistical methods for the reliability growth programme in the design phase of IEC 61014; - addition of the discrete reliability growth model for the test phase; - addition of the fixed number of faults model for the test phase, clarification of the symbols used for various models; - addition of real lif examples for most of the statistical models; - numerical correction of tables in the reliability growth test example. This publication is to be read in conjunction with IEC 61014:2003. |
| ICS: | 03.120.01 - Calidad en general, 03.120.30 - Aplicación de métodos estadísticos |
| CTN: | TC 56 - 1270 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC 61164:1995 |
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Otras Relaciones |
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