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IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

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Fecha edición:	2008-06-24 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica
CTN:	1368
Correcciones Normas	Es corregida por IEC 61967-6:2002/COR1:2010
Modificaciones Normas	Es modificada por IEC 61967-6:2002/AMD1:2008

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El libro en palabras del autor

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