IEC 61967-6:2002/COR1:2010
Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2010-08-30
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | 1368 |
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Correcciones Normas |
Modifica/corrige a IEC 61967-6:2002 |
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