IEC 62047-10:2011/COR1:2012
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
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2012-02-28
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | 1449 |
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Correcciones Normas |
Modifica/corrige a IEC 62047-10:2011 |
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