IEC 62047-2:2006
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
| Fecha edición: |
2006-08-15
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | 1449 |
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