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IEC 62047-28:2017

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices

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Fecha edición:	2017-01-20 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN:	1251
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN 62047-28:2016

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El libro en palabras del autor

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